Boundary Scan (auch JTAG, nach Norm IEEE 1149.1) ist ein Testverfahren, das Verbindungen auf einer Leiterplatte prüft, ohne dass jeder Knoten physisch über einen Prüfpunkt zugänglich sein muss. Die Prüflogik steckt in den Bauteilen selbst.
HOERATH integriert Boundary-Scan-fähige Prüfungen in seine Systeme: Funktionstest, Baugruppentest & Prüfadapter.
Das Prinzip hinter IEEE 1149.1
Boundary-Scan-fähige Chips besitzen an ihren Pins zusätzliche Registerzellen. Über eine vierpolige JTAG-Schnittstelle lassen sich Signale gezielt setzen und auslesen. So werden Lötstellen, Leiterbahnen und die Verdrahtung zwischen den Bausteinen getestet – auch bei BGA-Gehäusen, deren Anschlüsse unter dem Bauteil liegen.
Warum Boundary Scan an Bedeutung gewinnt
Moderne Baugruppen sind so dicht bestückt, dass klassische Nadelbett-Prüfpunkte oft fehlen. Boundary Scan reduziert den Bedarf an physischem Zugang und ergänzt damit den In-Circuit-Test. Häufig werden beide Verfahren kombiniert, um eine hohe Testabdeckung zu erreichen.